Bias k0/k1 | ≤±2mg |
---|---|
Herhaalbaarheid van de Sigma kl/kl van de schaalfactor (1σ, één maand) | ≤15ppm |
0g stabiliteit van de 4 uren de korte tijd | ≤10μg |
Bandbreedte | 800~2500Hz |
Drempel /Resolution | 1μg |
Kracht | ±12~±15V |
---|---|
Bias thermische coëfficiënt | ≤±10 μg/℃ |
Schaalfactor kl | 1.05~1.30 mA/g |
Drempel /Resolution | 1μg |
0g stabiliteit van de 4 uren de korte tijd | ≤10 μg |
Kracht | ±12~±15V |
---|---|
Bias thermische coëfficiënt | ≤±10 μg/℃ |
Schaalfactor kl | 1.05~1.30 mA/g |
Drempel /Resolution | 1μg |
0g stabiliteit van de 4 uren de korte tijd | ≤10 μg |
Kracht | ±12~±15V |
---|---|
Bias thermische coëfficiënt | ≤±10 μg/℃ |
Schaalfactor kl | 1.05~1.30 mA/g |
Drempel /Resolution | 1μg |
0g stabiliteit van de 4 uren de korte tijd | ≤10 μg |
Kracht | ±12~±15V |
---|---|
Bias thermische coëfficiënt | ≤±10 μg/℃ |
Schaalfactor kl | 1.05~1.30 mA/g |
Drempel /Resolution | 1μg |
0g stabiliteit van de 4 uren de korte tijd | ≤10 μg |
Kracht | ±12~±15V |
---|---|
Bias thermische coëfficiënt | ≤±10 μg/℃ |
Schaalfactor kl | 1.05~1.30 mA/g |
Drempel /Resolution | 1μg |
0g stabiliteit van de 4 uren de korte tijd | ≤10 μg |
Kracht | ±12~±15V |
---|---|
Bias thermische coëfficiënt | ≤±10 μg/℃ |
Schaalfactor kl | 1.05~1.30 mA/g |
Drempel /Resolution | 1μg |
0g stabiliteit van de 4 uren de korte tijd | ≤10 μg |
Kracht | ±12~±15V |
---|---|
Bias thermische coëfficiënt | ≤±10 μg/℃ |
Schaalfactor kl | 1.05~1.30 mA/g |
Drempel /Resolution | 1μg |
0g stabiliteit van de 4 uren de korte tijd | ≤10 μg |
Bias k0/k1 | ≤±2mg |
---|---|
Herhaalbaarheid van de Sigma kl/kl van de schaalfactor (1σ, één maand) | ≤15ppm |
0g stabiliteit van de 4 uren de korte tijd | ≤10μg |
Bandbreedte | 800~2500Hz |
Drempel /Resolution | 1μg |
Bias k0/k1 | ≤±2mg |
---|---|
Herhaalbaarheid van de Sigma kl/kl van de schaalfactor (1σ, één maand) | ≤15ppm |
0g stabiliteit van de 4 uren de korte tijd | ≤10μg |
Bandbreedte | 800~2500Hz |
Drempel /Resolution | 1μg |